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三维表面计量系列报告(2):基于共聚焦光学显微镜的疏水性材料可溯性表面表征

Created Date 8/19/2019 晶晶   View Numbers  60 Return    
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报告人:王陈博士
报告时间:2019年8月20 下午2:00
地点:东区9号楼114讨论室
 
报告摘要:由于结构性表面在各种应用领域的重要性日益增加,包括生物医学工程,电信工业,航空航天等,对其的研究也吸引了越来越多的关注。 疏水性材料的表面是典型的结构性表面。疏水性材料表面的粗糙度分布在微米和纳米尺度上研究的重要性已经获得了高度重视。准确的表面表征对其功能的最终质量控制具有显著影响。然而,仍然缺乏对结构性表面有效的表征方法,同时目前的研究很少有以可溯性的方式对结构性表面进行参数化表征。近几十年来,尽管已经对常规随机表面的三维表面表征进行了许多研究,但是这些方法难以应用于由重复的微米或纳米级特征图案形成的结构化表面上。本报告介绍了一种基于校准以及国际标准ISO25178-602所规定的计量特性等提出的可溯性表征结构表面的方法,描述了数学模型及相关算法的创建步骤,介绍了应用蒙特卡罗法对变量的分布进行仿真的方法等。
 
 
报告人简介:王陈,西班牙马德里理工大学制造工程博士,日本国立情报学研究所实习研究员。主要研究方向为三维表面计量(surface metrology)。博士研究课题为共聚焦光学显微镜三维表面表征的不确定度及溯源性研究。所从事的课题为西班牙国家科技创新计划项目,获得了西班牙国家经济部的资助。研究内容主要有原始测量数据异常值检测,滤波分析(filtration),校准(calibration),不确定度评定(uncertainty evaluation),表面高度参数化(parameterization),台阶高度评定(step height), 以及ISO25178、ISO16610等标准算法。在日本国立情报学研究所实习期间主要研究内容为三维结构性表面特征分割(surface segmentation)。


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